HİZMETLERİMİZ

Elipsometre

Elipsometre

M-2000 spektroskopik elipsometre ince film karakterizasyonunda çok çeşitli talepleri karşılamak için tasarlanmış bir cihazdır. İleri seviye optik tasarımı, geniş spektral aralığı ve hızlı veri toplama özellikleri, güçlü ve kullanışlılığı öne çıkan özellikleri arasındadır. M-2000 sistemi yüksek hız ve yüksek doğrulukla çalışır. Tescillenmiş RCE (Rotating Compensator Ellipsometry) teknolojisini yüzlerce dalgaboyundan oluşan bütün spektrumu tek bir fraksiyonda toplamak için yüksek hızlı CCD dedeksiyonu ile birleştirir.

VASE, yarıiletkenler, dielektrikler, polimerler, metaller, çok katmanlı yapılar gibi her tipte malzemeler üzerinde incelemeler yapmak için doğruluğu yüksek ve çok yönlü kullanıma uygun bir cihazdır. VASE sistemi, 193 ile 3200 nm spektral aralığında yüksek doğruluk ve hassasiyeti birleştirir. Değişken dalgaboyu ve geliş açıları aşağıdaki alanlarda esnek ölçüm yeteneği sağlar:

  • Yansıma ve Geçirgenlik Elipsometresi
  • Genel Kapsamlı Elipsometre (Anizotropi, Geciktiricilik, Çift Kırılım)
  • Yansıtma (R) ve Geçirgenlik (T) İntensitesi
  • Çarpraz-polarize R/T
  • Depolarizasyon
  • Saçılımmetre
  • Mueller matrisi

Ürün Fotoğrafları

  • Elipsometre
  • Elipsometre

Diğer Hizmetlerimiz